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Beccara, Silvio (1996) Sviluppo di una metodologia analitica quantitativa in spettrometria di massa di ioni secondari nella caratterizzazione di films sottili per la microelettronica di ultima generazione. [Laurea vecchio ordinamento]

Per questo documento il full-text online non è disponibile.


Tipologia del documento:Laurea vecchio ordinamento
Corsi di Laurea vecchio ordinamento:Facoltà di Scienze MM. FF. NN. > CL Chimica
Settori scientifico-disciplinari del MIUR:Area 03 - Scienze chimiche
Codice ID:12968
Relatore:Tondello, Eugenio
Data della tesi:1996
Biblioteca:Polo di Scienze > Dip. di Scienze Chimiche - Biblioteca
Collocazione:TESI.2660
Note per la fruizione:La copia a stampa della tesi e' disponibile presso la biblioteca con la collocazione indicata
Tipo di fruizione per il documento:solo consultazione
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:

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