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Cavaliere, Marco (2010) Impatto dei disturbi sull'alimentazione sul tasso di soft error di memorie SRAM. [Laurea specialistica biennale]

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Abstract

In questo lavoro di tesi è stato studiato l’impatto di un disturbo sull’alimentazione di una cella SRAM sul tasso di errori dovuti a particelle ionizzanti (SER).

Item Type:Laurea specialistica biennale
Corsi di Laurea specialistica biennale:Facoltà di Ingegneria > Ingegneria elettronica
Uncontrolled Keywords:soft error, qualità, disturbi, sram
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:23506
Relatore:Paccagnella , Alessandro
Data della tesi:20 April 2010
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica "Giovanni Someda"
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:Yes

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