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Framarin, Junior Jader (2010) Characterization and reliability of NPD/ALQ3 OLEDS, submitted to thermal and electrical ageing. [Laurea specialistica biennale]

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Abstract

Questo lavoro di tesi si occupa di studiare il degrado e l'affidabilità di dispositivi LED a semiconduttore organico (OLED) in diverse condizioni di stress. I dispositivi usati sono di due tipologie: sono entrambi costruiti usando come hole transport layer (HTL) l'NPD e come electron transport layer (ETL) l'Alq3, l'unica variante consiste nella presenza di un hole injection layer (HIL) in uno dei due set. Sono stati effettuati stress termici ed elettrici. Infine sono state analizzate le cinetiche di degrado ottico ed elettrico.

Item Type:Laurea specialistica biennale
Corsi di Laurea specialistica biennale:Facoltà di Ingegneria > Ingegneria elettronica
Uncontrolled Keywords:OLED, NPD, Alq3, ageing, thermal
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:23515
Relatore:Meneghesso, Gaudenzio
Data della tesi:20 April 2010
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica "Giovanni Someda"
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:Yes

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