Questo lavoro di tesi si occupa di studiare il degrado e l'affidabilità di dispositivi LED a semiconduttore organico (OLED) in diverse condizioni di stress. I dispositivi usati sono di due tipologie: sono entrambi costruiti usando come hole transport layer (HTL) l'NPD e come electron transport layer (ETL) l'Alq3, l'unica variante consiste nella presenza di un hole injection layer (HIL) in uno dei due set. Sono stati effettuati stress termici ed elettrici. Infine sono state analizzate le cinetiche di degrado ottico ed elettrico.
Characterization and reliability of NPD/ALQ3 OLEDS, submitted to thermal and electrical ageing
Framarin, Junior Jader
2010/2011
Abstract
Questo lavoro di tesi si occupa di studiare il degrado e l'affidabilità di dispositivi LED a semiconduttore organico (OLED) in diverse condizioni di stress. I dispositivi usati sono di due tipologie: sono entrambi costruiti usando come hole transport layer (HTL) l'NPD e come electron transport layer (ETL) l'Alq3, l'unica variante consiste nella presenza di un hole injection layer (HIL) in uno dei due set. Sono stati effettuati stress termici ed elettrici. Infine sono state analizzate le cinetiche di degrado ottico ed elettrico.File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
569882_-_Junior_Jader_Framarin.pdf
accesso aperto
Dimensione
54.32 MB
Formato
Adobe PDF
|
54.32 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
The text of this website © Università degli studi di Padova. Full Text are published under a non-exclusive license. Metadata are under a CC0 License
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.12608/13413