Vai ai contenuti. | Spostati sulla navigazione | Spostati sulla ricerca | Vai al menu | Contatti | Accessibilità

logo del sistema bibliotecario dell'ateneo di padova

Bugno, Paolo (2010) Characterization and reliability of blue and white GaN-based LEDs submitted to current and thermal stress. [Laurea specialistica biennale]

Full text disponibile come:

[img]
Anteprima
Documento PDF
11Mb

Abstract

The aim of this thesis work is to analyze reliability of blue and white GaN-based commercial LEDs. Reliability is indeed one of the key factors for devices success in the market of lighting solutions. Temperature and driving current are the main causes of degradation of LEDs. In order to understand the degradation mechanisms of these devices two types of stresses have been carried out, current and thermal stress and pure thermal stress, and electrical, optical and thermal measurements have been performed. The results obtained at the end of this work show several types of degradation mechanisms which influence LEDs both electrical and optical properties / Caratterizzazione e affidabilità di LED blu e bianchi basati su nitruro di gallio sottoposti a stress in corrente ed in temperatura

Tipologia del documento:Laurea specialistica biennale
Corsi di Laurea specialistica biennale:Facoltà di Ingegneria > Ingegneria elettronica
Parole chiave:LEDs, reliability
Settori scientifico-disciplinari del MIUR:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:25125
Relatore:Zanoni, Enrico
Data della tesi:13 Luglio 2010
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca Interdipartimentale di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:

Solo per lo Staff dell Archivio: Modifica questo record