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Nale, Filippo (2011) Studio della stabilità di TFT organici con diverse tecniche di incapsulamento e crescita del pentacene. [Laurea specialistica biennale]

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Abstract

Ci si è occupati della caratterizzazione di tft organici realizzati con due diverse interfacce ossido di silicio-pentacene: 1) dispositivi con ossido trattato con esametildisilazano (HMDS) 2) dispositivi con ossido trattato con HMDS e sopra uno strato di nanoparticelle di silicio. Gli stessi sono stati testati in quanto ad affidabilità e si son valutati gli effetti provocati dall'esposizione a luce visibile e uv, sui parametri V*, Idmax e gm. Si è osservato che i dispositivi con HMDS subiscono una degradazione permanente nell'UV, mentre i dispositivi con silicon nanoparticles hanno variazioni solo temporanee, poi avviene un recupero. La luce visibile induce variazioni solo temporanee. L'incapsulamento dei dispositivi con parylene ne limita gli effetti

Item Type:Laurea specialistica biennale
Corsi di Laurea specialistica biennale:Facoltà di Ingegneria > Ingegneria elettronica
Uncontrolled Keywords:elettronica organica
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:27508
Relatore:Cester, Andrea
Data della tesi:15 March 2011
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica "Giovanni Someda"
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:Yes

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