Vai ai contenuti. | Spostati sulla navigazione | Spostati sulla ricerca | Vai al menu | Contatti | Accessibilità

logo del sistema bibliotecario dell'ateneo di padova

Zanetello, Federico (2013) Effetti dei Soft error nei circuiti integrati. [Laurea triennale]

Full text disponibile come:

[img]
Preview
PDF
2228Kb

Abstract

Introduzione ai soft error esplorandone origini, effetti e la loro mitigazione nella moderna industria elettronica. La tesi conclude con l’analisi di una serie di test eseguiti sull’architettura IBM POWER6 (microprocessore e I/O hub).

Item Type:Laurea triennale
Corsi di Laurea Triennale:Scuola di Ingegneria > Ingegneria dell'informazione
Uncontrolled Keywords:soft error, soft errors, circuiti integrati, integrated circuits, IC, large scale integration, LTI, raggi cosmici, cosmic rays, particelle alfa, raggi alfa, elioni, alpha particle, SOI transistor, bulk transistor, flip-flop, SRAM, single event upset, SEU, soft error rate, SER, mitigazione, mitigation, IBM POWER6, I/O hub
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:42584
Relatore:Paccagnella, Alessandro
Data della tesi:25 February 2013
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica "Giovanni Someda"
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:No

Solo per lo Staff dell Archivio: Modifica questo record