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Ruzzarin, Maria (2013) Termografia applicata all'elettronica. [Laurea triennale]

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Abstract

Uno dei parametri che influenza quasi tutti i processi chimico fisici è la temperatura, perciò rappresenta uno strumento utile per determinare l'affidabilità di un dispositivo elettronico. In questa relazione si descrivono i metodi per misurare la temperatura di dispositivi a semiconduttore. In seguito vengono analizzati più in dettaglio la termografia a infrarosso e Raman.Infine si confrontano i vantaggi delle due tecniche applicate su dispositivi AlGaN/GaN

Item Type:Laurea triennale
Corsi di Laurea Triennale:Scuola di Ingegneria > Ingegneria dell'informazione
Uncontrolled Keywords:termografia, infrarosso, raman, affidabilità
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:44194
Relatore:Meneghesso, Gaudenzio
Data della tesi:30 September 2013
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica "Giovanni Someda"
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:No

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