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Bruni, Giovanni (2014) Temperature Effects on Soft Error Rate Due to Atmospheric Neutrons on 28 nm FPGAs. [Magistrali biennali]

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Abstract

In ambiti come l'avionica e l'automotive e' difficile garantire un'alta affidabilita' dell'elettronica per la presenza di radiazione. In tale lavoro sperimentale su FPGA si vuole tracciare una relazione fra il tasso di Single Event Upset dovuti a neutroni atmosferici nelle memorie SRAM e la frequenza di funzionamento del circuito. I risultati mostrano che e' difficile avere una spiegazione teorica del fenomeno e che il tasso di SEU e' legato più alla temperatura del ciruito che alla frequenza.

Tipologia del documento:Magistrali biennali
Parole chiave:SEU, FPGA, SRAM, temperature, soft error rate, neutrons, cross section
Settori scientifico-disciplinari del MIUR:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Codice ID:45668
Relatore:Paccagnella, Alessandro
Data della tesi:15 Aprile 2014
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca Interdipartimentale di Ingegneria dell'Informazione e Ingegneria Elettrica
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:

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