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Zorzi, Giorgio (2014) Separazione elettromagnetica delle impurità nel silicio fuso. [Magistrali biennali]

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Abstract

Lo scopo di questa tesi è lo studio elettromagnetico e termico del metodo per la separazione delle impurità nel silicio fuso attraverso l’applicazione di un campo elettromagnetico. Questo approccio sfrutta la differenza di conduttività che esiste tra le impurità e lo stesso silicio fuso. L’analisi è fatta usando il metodo degli elementi finiti con implementazione in MATLAB, concentrandosi sui casi in cui la frequenza della corrente di alimentazione dell’induttore è di 1 kHz e 11 kHz

Item Type:Magistrali biennali
Corsi di Diploma di Laurea:Scuola di Ingegneria > Ingegneria Elettrica
Scuola di Ingegneria > Ingegneria Elettrica
Uncontrolled Keywords:silicio, separazione, elettromagnetico
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-IND/31 Elettrotecnica
Codice ID:46464
Relatore:Forzan, Michele
Correlatore:Bojarevics, Valdis
Data della tesi:18 July 2014
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca Centrale di Ingegneria
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:Yes

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