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Gianesini, Nicolò (2015) Metrologia CT per l'Additive Manufacturing: studio di applicazioni industriali e analisi dell'influenza della rugosità sull'incertezza di misura. [Magistrali biennali]

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Abstract

La tomografia computerizzata (Computed Tomomography, CT) e l’additive manufacturing (AM) sono due realtà innovative nel panorama industriale. In questo lavoro si è analizzata la metrologia CT per l'AM. Sono stati descritti due casi studio industriali e si è determinata sperimentalmente l'esistenza di un errore sistematico dovuto alla rugosità nelle misure dimensionali CT. Si è infine proposto un nuovo metodo per il calcolo dell'incertezza di misura basato sulla norma ISO 15530-3

Item Type:Magistrali biennali
Corsi di Diploma di Laurea:Scuola di Ingegneria > Ingegneria Meccanica
Scuola di Ingegneria > Ingegneria Meccanica
Additional Information:Embargo permanente per motivi di segretezza e/o di proprietĂ  dei risultati e informazioni di enti esterni o aziende private che hanno partecipato alla realizzazione del lavoro di ricerca relativo alla tesi
Uncontrolled Keywords:tomografia
Subjects:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-IND/16 Tecnologie e sistemi di lavorazione
Codice ID:48868
Relatore:Carmignato, Simone
Correlatore:Aloisi, Valentina
Data della tesi:17 April 2015
Biblioteca:Polo di Ingegneria > Biblioteca Centrale di Ingegneria
Tipo di fruizione per il documento:on-line per i full-text
Tesi sperimentale (Si) o compilativa (No)?:Yes

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