Studio di affidabilità di celle in CdTe con prototipazione di una scheda di test per stress a lungo termine

Questa tesi tratta i meccanismi di degrado delle celle in CdTe. Una prima parte del lavoro riguarda la caratterizzazione delle celle tramite IV light e dark, EQE e OCVD. Una seconda parte consta di stress termici di durata variabile con una successiva caratterizzazione della cella. La parte finale è dedicata all'allestimento di un banco di misura automatizzato, realizzato tramite la progettazione di una matrice di relè, che permette il controllo da remoto di più canali di misura.