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Livello superiore
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Numero di documenti: 16.

A

Astarita , Matia (2011) Test di radiazioni su processori per uso spaziale. [Magistrali biennali]

B

Belgioioso, Giuseppe (2012) Ossidi ad alta costante dielettrica come dielettrico di gate per transistor MOS. [Laurea triennale]

Bevilacqua, Andrea (2010) Propagazione di single-event transients in logiche combinatorie. [Laurea specialistica biennale]

C

Cavaliere, Marco (2010) Impatto dei disturbi sull'alimentazione sul tasso di soft error di memorie SRAM. [Laurea specialistica biennale]

Cherubin, Matteo (2012) Memorie magnetiche integrate. [Laurea triennale]

Cappellari, Elisa (2010) Simulazioni per lo studio degli effetti da evento singolo su SRAM con ISE TCAD. [Laurea specialistica biennale]

D

Dall'Alba, Carlo (2012) Sensori di immagine CCD e CMOS. [Laurea triennale]

Dal Canale, Stefano (2010) Simulazione degli effetti di radiazione ionizzante su pompe di carica per memorie flash. [Laurea triennale]

Dalla Bontà, Stefano (2012) Sviluppo di una periferica hardware per misure di soft error su SRAM. [Laurea triennale]

F

Ferrarese, Federica (2014) Statistical analysis of Total Ionizing Dose response in 25-nm NAND Flash memory. [Magistrali biennali]

Facchin, Martino (2011) Una suite di test per valutare gli effetti della radiazione cosmica sul microprocessore PowerPC 7448. [Magistrali biennali]

G

Ghetti, Anna (2012) Effetti dei temporali sull'elettronica di bordo degli aeromobili. [Laurea triennale]

Gasparini, Giacomo (2015) Progetto e realizzazione di prove vita accelerate per schede elettroniche in una linea industriale di fabbricazione di lavabiancheria. [Magistrali biennali]

M

Miccoli, Beatrice (2012) Affidabilità di SRAM e microprocessori in ambiente spaziale. [Laurea triennale]

P

Peruffo, Andrea (2012) Una prospettiva sulla spintronica. An outlook on spintronics. [Laurea triennale]

V

Valente, Eugenio (2016) Investigation of Total Ionizing Dose Eects on Semiconductor Power Devices under Static and Dynamic Conditions. Studio degli Effetti della Dose Totale delle Radiazioni Ionizzanti sui Dispositivi di Potenza a Semiconduttore in Condizioni Statiche e Dinamiche. [Magistrali biennali]